Los efectos de la respuesta de frecuencia de la configuración de los componentes internos en un sistema dieléctrico cerámico múltiple
Escrito por: S. Pala | R. Demcko | M. Berolini
Abstracto:
El propósito de este artículo es discutir los efectos de la respuesta de frecuencia de los diseños internos dentro de los sistemas cerámicos. Esos efectos estarán relacionados con los parámetros de rendimiento de los componentes de los dispositivos utilizados para suprimir ESD y controlar EMI en líneas de datos de alta velocidad, que son propensas a sufrir daños por ESD. A medida que aumenta la velocidad de comunicación, los sistemas se vuelven más complicados y los estándares de rendimiento se vuelven más estrictos, las opciones para mejorar el rendimiento EMI/RFI adquieren gran importancia. El rendimiento y la confiabilidad de EMI a largo plazo son de particular importancia en los sectores de aplicaciones automotrices, médicas y de aviación. Se realizará una comparación de rendimiento entre los dispositivos MLCC y MLV SMT tradicionales de un solo elemento. Se realizará una segunda comparación entre filtros MLCC de 3 terminales y filtros MLV de 3 terminales que utilizan dieléctricos de ZnO dopados. Se presentarán diseños internos para ampliar la respuesta de frecuencia de los MLV (a frecuencias más altas y más bajas). Estos van desde agrupar MLV/MLCC en un solo paquete para ampliar la respuesta de frecuencia de MLV hasta el uso de electrodos sin superposición para minimizar la capacitancia interna del dispositivo. El impacto de los MLV subpf se mostrará mediante el uso de diagramas de ojo.
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El propósito de este artículo es discutir los efectos de la respuesta de frecuencia de los diseños internos dentro de los sistemas cerámicos. Esos efectos estarán relacionados con los parámetros de rendimiento de los componentes de los dispositivos utilizados para suprimir ESD y controlar EMI en líneas de datos de alta velocidad, que son propensas a sufrir daños por ESD. A medida que aumenta la velocidad de comunicación, los sistemas se vuelven más complicados y los estándares de rendimiento se vuelven más estrictos, las opciones para mejorar el rendimiento EMI/RFI adquieren gran importancia. El rendimiento y la confiabilidad de EMI a largo plazo son de particular importancia en los sectores de aplicaciones automotrices, médicas y de aviación. Se realizará una comparación de rendimiento entre los dispositivos MLCC y MLV SMT tradicionales de un solo elemento. Se realizará una segunda comparación entre filtros MLCC de 3 terminales y filtros MLV de 3 terminales que utilizan dieléctricos de ZnO dopados. Se presentarán diseños internos para ampliar la respuesta de frecuencia de los MLV (a frecuencias más altas y más bajas). Estos van desde agrupar MLV/MLCC en un solo paquete para ampliar la respuesta de frecuencia de MLV hasta el uso de electrodos sin superposición para minimizar la capacitancia interna del dispositivo. El impacto de los MLV subpf se mostrará mediante el uso de diagramas de ojo.
