Corriente de ondulación: una prueba cada vez más relevante para complementar las consideraciones de diseño
Escrito por: Vincent Mao, Joe Hock, Caleb Winfrey
Abstracto:
El mundo está evolucionando hacia la electrificación con vehículos eléctricos (VE), energías renovables y sistemas en chip (SOC) más pequeños, potentes y eficientes, a medida que la integridad de la señal y la potencia en diferentes entornos se convierte en una preocupación. La prueba de corriente de rizado suele ser necesaria para evaluar el rendimiento del dispositivo hasta 20 °C por encima de la temperatura ambiente. Este resumen se centra en las configuraciones de prueba utilizadas para cubrir tres niveles de ESR (bajo, medio y alto, respectivamente) para aplicaciones que van desde la integridad de la señal hasta microondas/RF. Presentamos los resultados iniciales y los procedimientos para recopilar y analizar datos, así como consideraciones sobre el impacto en el rendimiento con piezas montadas. También se abordan los desafíos actuales.
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El mundo está evolucionando hacia la electrificación con vehículos eléctricos (VE), energías renovables y sistemas en chip (SOC) más pequeños, potentes y eficientes, a medida que la integridad de la señal y la potencia en diferentes entornos se convierte en una preocupación. La prueba de corriente de rizado suele ser necesaria para evaluar el rendimiento del dispositivo hasta 20 °C por encima de la temperatura ambiente. Este resumen se centra en las configuraciones de prueba utilizadas para cubrir tres niveles de ESR (bajo, medio y alto, respectivamente) para aplicaciones que van desde la integridad de la señal hasta microondas/RF. Presentamos los resultados iniciales y los procedimientos para recopilar y analizar datos, así como consideraciones sobre el impacto en el rendimiento con piezas montadas. También se abordan los desafíos actuales.
