Mediciones de inductancia para dispositivos multiterminales
Escrito por: Ben Smith
Abstracto:
Las nuevas innovaciones tanto en la industria de las telecomunicaciones como en la industria informática han generado la necesidad de utilizar dispositivos capacitivos de baja inductancia en aplicaciones de desacoplamiento de fuentes de alimentación. Siendo así, diferentes conceptos para la construcción de estos dispositivos han sido recientemente la clave del éxito de alcanzar inductancias inferiores a 50pH. Sin embargo, existe un obstáculo importante para el nuevo proceso de innovación debido a las técnicas de medición. La mayoría de los dispositivos más nuevos utilizan técnicas como flujo de corriente de trayectorias múltiples, longitud corta y técnicas de inyección de corriente igual y opuesta para lograr niveles de inductancia bajos. Además, junto con estos nuevos diseños está la necesidad de mayores capacidades de almacenamiento de energía y, por lo tanto, de más capacitancia. Todos estos efectos presentan tareas más complejas en el proceso de medición. Este artículo ofrece tanto un enfoque genérico para la medición como un enfoque exacto específicamente para los dispositivos de tipo interdigitado (IDC).
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Las nuevas innovaciones tanto en la industria de las telecomunicaciones como en la industria informática han generado la necesidad de utilizar dispositivos capacitivos de baja inductancia en aplicaciones de desacoplamiento de fuentes de alimentación. Siendo así, diferentes conceptos para la construcción de estos dispositivos han sido recientemente la clave del éxito de alcanzar inductancias inferiores a 50pH. Sin embargo, existe un obstáculo importante para el nuevo proceso de innovación debido a las técnicas de medición. La mayoría de los dispositivos más nuevos utilizan técnicas como flujo de corriente de trayectorias múltiples, longitud corta y técnicas de inyección de corriente igual y opuesta para lograr niveles de inductancia bajos. Además, junto con estos nuevos diseños está la necesidad de mayores capacidades de almacenamiento de energía y, por lo tanto, de más capacitancia. Todos estos efectos presentan tareas más complejas en el proceso de medición. Este artículo ofrece tanto un enfoque genérico para la medición como un enfoque exacto específicamente para los dispositivos de tipo interdigitado (IDC).
